SWISSto12提供毫米波太赫兹的材料提供测量解决方案。 使用SWISSto12的材料表征套件（MCK）和相关的数据分析软件，可以快速方便地测量材料的介电性能（ε - permittivity）和损耗正切角（tan δ - loss tangent）。提供WebMCK分析软件可以快速校准及材料数据分析。
材料特性测量套件Material Characterization Kit (MCK)
简述Introduction
SWISSto12提供毫米波太赫兹的材料提供测量解决方案。 使用SWISSto12的材料表征套件（MCK）和相关的数据分析软件，可以快速方便地测量材料的介电性能（ε - permittivity）和损耗正切角（tan δ - loss tangent）。提供WebMCK分析软件可以快速校准及材料数据分析。
MCK是根据波导分段的测量仪器，共同覆盖了从25 GHz到1100 GHz的可测量范围。 该仪器非常易于校准，使用和提取准确的材料性能数据，而几乎不需要样品制备。 与传统的自由空间测量设置相比，该解决方案在成本，性能和易用性方面极具竞争力。
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MCK套件主要特点
ü 测试频段覆25-1100GHz;
ü 可与R&S、Agilent、Anritsu、中电41所等市面主流仪器兼容;
ü 高集成紧凑设计COMPACT、准确/可靠性高Robust、快速测量FAST、简单易用EasyToUse;
ü 测量不同材料（固体、软材料/泡沫、粉末、液体、涂层及多层材料等）;
产品组成
| ① MCK材料测量套件 ② Protective caps保护盖 ③ Calibration short校准短路器 ④ Screws to connect cables连接螺钉 ⑤ Peli protector case保护箱 |
SWISSto12 MCK Model List 
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测量样品要求
对于固体样品：
•厚度均匀（平板），表面粗糙度没有特殊情况
•覆盖天线孔径的横向尺寸（通常为40 x 40 mm）
•最大厚度约20毫米
•没有严格的最小厚度，对于低损耗材料，理想的厚度是几毫米
•可以通过旋转样品来测量各向异性材料
▪对于软样品和泡沫（升级套件）：
•与固体样品相似，提供了特殊的样品架+升级的软件版本
▪对于液体样品和粉末（升级套件）：
•容积受提供的特殊样品架限制+升级的软件版本
▪对于涂料和多层材料（升级套件）：
•根据客户需求定制的特殊版本软件
WebMCK软件
SWISSto12开发了具有简单界面的软件，可在几分钟内轻松提取材料特性。
全自动的测量过程：
Ø 适用于所有主要操作系统
Ø 无需安装
Ø 与大多数VNA主机
简单的测试步骤
校准测量步骤
MCK响应校准和时间门控足以进行良好的测量-无需事先进行TRL / SOLT波导校准
应用案例一：
Measurement Examples (Const. eps)
Boronsilicate Glass (d = 1.1 mm) @ WR28 (25 – 40 GHz)
应用案例二：
Measurement Examples (Const. eps)
Polymer Material A (d = 2.0 mm) @ WR6.5 (110 – 170 GHz)
应用案例三：
Measurement Examples (Const. eps)
Prime FZ-Si Wafer (d = 1.6 mm) @ WR3.4 (220 – 330 GHz)
应用案例四：
Measurement Examples (Var. eps)
YZrO2 (d = 1.23 mm) @ WR1.5 (500 – 750 GHz)
应用案例五：
用于测量叶片样品的实验装置的示意图， 将叶片样品放在两个安装在波导上的PTFE帽之间
第1天和第4天在三个不同位置处的咖啡叶实部的电容率
SWISSto12 Material Characterization Kit (MCK)
